X射線熒光光譜分析儀因其對(duì)元素分析有著的性能，而非常受市場(chǎng)的歡迎。X射線熒光光譜分析儀是光譜儀的一種，其在運(yùn)行過(guò)程中有時(shí)會(huì)出現(xiàn)計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定的情況。X射線熒光光譜分析儀的常用探測(cè)器有二個(gè)：閃爍計(jì)數(shù)器和流氣計(jì)數(shù)器。兩者相比較而言，閃爍計(jì)數(shù)器比流氣計(jì)數(shù)器更穩(wěn)定。因此，X射線熒光光譜分析儀出現(xiàn)計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定的情況時(shí)，其問(wèn)題通常出現(xiàn)在流氣計(jì)數(shù)器上。

 

　　流氣計(jì)數(shù)器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄的鋁膜所構(gòu)成，由于窗膜承受大氣壓力，一段時(shí)間后隨著基體材料的延展，鋁膜可能產(chǎn)生裂紋，從而減弱導(dǎo)電性能，這種情況對(duì)脈沖高度分布影響不大，但會(huì)使計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定。檢查方法：在低X射線光管功率情況下，選一個(gè)KKα計(jì)數(shù)率約2000CPS的樣品，測(cè)定計(jì)數(shù)率，然后用一個(gè)鉀含量高的樣品取代原樣品，將光管調(diào)到滿功率，保持2分鐘，再將X射線光管功率減至原值，測(cè)量*個(gè)樣品，如窗膜導(dǎo)電正常，將得到原計(jì)數(shù)率，如窗膜導(dǎo)電性能變差，會(huì)發(fā)現(xiàn)計(jì)數(shù)率減小，然后慢慢回升至初始值，這種情況下就應(yīng)對(duì)窗膜進(jìn)行調(diào)換。

 

　　X射線熒光光譜分析儀出現(xiàn)計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定的情況時(shí)，應(yīng)及時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行檢查，尋找到故障原因并進(jìn)行排除。