華高儀器于2025年09月25日發布了文章【牛津 X-Strata920 系列：鍍層檢測實用之選】。

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在鍍層厚度測量與材料成分分析領域，牛津品牌的 X-Strata920 系列鍍層測厚儀憑借均衡的性能與實用的功能，成為眾多行業檢測工作的重要工具。該系列儀器遵循非破壞、非接觸的檢測原則，可實現多合金測量，覆蓋較廣的元素范圍，同時在測量結果一致性與檢測效率方面表現穩定，能夠幫助企業把控產品質量，合理控制電鍍環節的成本投入。

一、核心工作特點與檢測能力

X-Strata920 系列鍍層測厚儀在實際應用中展現出多方面實用特性，滿足不同場景下的檢測需求：

測量精度與效率：儀器測量結果可細化至 μin 級別，穩定性較好；采用快速檢測模式，10 秒內即可得出測量結果，減少等待時間。

分析模式多樣：支持定性、半定量及定量三種分析模式，不僅能完成鍍層厚度檢測，還可進行貴金屬檢測（如 Au karat 評價）、材料鑒別與分類，以及材料和合金元素的光譜定性分析。

數據處理與輸出：具備全面的數據統計功能，可計算平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK 等參數，并生成控制上限圖、控制下限圖、數據分組、X-bar/R 圖表、直方圖；結果輸出方式靈活，可直接打印，或一鍵導出至 PDF、Excel 文件（Excel 導出為選配），報告中可包含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等內容，且支持自定義報告模板。

樣品觀察與對焦：配備高分辨率彩色 CCD 樣品觀察系統，標準光學放大倍數為 30 倍，還可選擇 50 倍放大規格，同時支持數字 200% 放大；具備測量位置預覽功能，以及激光對焦和自動對焦功能，單擊鼠標即可觸發 Z 軸自動掃描與鐳射聚焦，方便精準定位檢測位置。

二、技術參數與硬件配置

1. 基礎技術與測量范圍

測量元素范圍：覆蓋 Ti22（鈦）至 U?2（鈾）之間的元素。

鍍層與成分分析能力：鍍層最多可同時測定 5 層（包含 4 層鍍層與 1 層基體材料）；成分最多可同時測量 25 種元素。

測量方法：采用 SmartLink™FP（基本參數法），儀器預裝超過 800 種應用參數 / 方法，建立應用僅需簡單直觀的步驟。

工作原理：對被測樣品發射一次 X 射線，樣品原子吸收能量后被激發并釋放二次 X 射線，不同化學元素釋放的 X 射線能量具有特異性，通過測量二次 X 射線的特征能量與強度，實現對鍍層厚度和材料成份的定性、定量分析。

2. X 射線激發與探測系統

X 射線激發：輸出規格為 50kV、1.0mA（50W），搭配空冷式微聚焦銠 X 射線管與 Be 窗；采用垂直下照式 X 射線光學系統，配備安全防射線光閘；設有二次濾波組件，可選擇三個程控交換的濾波器，用于修正 X 射線重疊譜問題。

探測器：采用正比例計數器，保障對二次 X 射線信號的穩定接收與轉換。

3. 樣品臺規格（按型號區分）

X-Strata920 系列包含四種型號，不同型號樣品臺規格存在差異，可適配不同場景需求：

P920 - S：屬于固定臺類型，樣品高度限制為≤33mm。

P920 - MWS：為半自動類型，采用單準直器加深臺設計；樣品倉為抽屜式結構，內部尺寸為 279×508×152mm，設有 4 個上下可調的位置，每格高度為 25.4mm；同時支持自定義樣品臺，可滿足樣品高度 > 160mm 的測量需求，樣品高度限制為≤160mm。

P920 - MWM：同樣為半自動類型，采用多準直器加深臺設計，樣品倉相關設計與 P920 - MWS 一致，樣品高度限制也為≤160mm。

P920 - AM：為自動臺類型，X-Y 軸行程為 178×178mm，樣品臺尺寸為 610×560mm；支持自動送樣與無人自動測量，可對樣品進行編程，實現自動多點測試與重復測試，還能通過鼠標控制樣品臺精確定位樣品，樣品高度限制為≤33mm。

4. 準直器規格

儀器支持單準直器、多準直器選擇，多準直器可程控交換，同時提供圓形、矩形兩種形狀的準直器：

圓形準直器：可選規格包括 Φ0.1、Φ0.15、Φ0.2、Φ0.3、Φ0.33、Φ0.5mm。

矩形準直器：可選規格包括 0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.105x0.254、0.102x0.406mm。

標配情況：單準直器標配為 Φ0.3mm；雙準直器標配為 Φ0.1、Φ0.3mm；四準直器標配為 Φ0.15、Φ0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm。

5. 計算機與成像系統

計算機系統：搭載 Intel Core i3 - 3240 3.40GHz 處理器，配備 2G 內存、500G 硬盤與 DVD 光驅，搭配 17 吋液晶彩色顯示器，預裝 Microsoft™ Win7 32bit 操作系統。

成像系統：采用彩色視頻系統，支持實時顯示被測樣品圖像，光學放大倍數為 30 倍（可選 50 倍），支持數字 200% 放大，配合激光自動對焦功能，提升樣品觀察清晰度。

6. 儀器外形尺寸

P920 - S、P920 - MWS、P920 - MWM：寬 × 深 × 高為 407×770×305mm。

P920 - AM：寬 × 深 × 高為 610×1037×375mm。

7. Z 軸控制

采用鼠標控制方式，程控移動距離為 43mm，操作便捷且定位精準。

三、安全設計與應用領域

1. 全面的安全保障

為確保操作過程安全，儀器配備多重安全設計：

操作權限控制：具備自動鎖定功能，防止未授權操作；簡單用戶界面僅向日常操作員開放有限授權，主管人員可進行系統維護，同時系統自動生成操作員使用記錄。

硬件安全防護：設有 Z 軸保護傳感器、安全防射線光閘、樣品室門開閉傳感器、X 射線鎖、X 射線警示燈；配備緊急停止按鈕、前面板安全鈕與后面板安全鎖，進一步降低操作風險。

2. 廣泛的應用場景

X-Strata920 系列鍍層測厚儀可適配多個行業的檢測需求，包括 PCB（印制電路板）、FPC（柔性印制電路板）、LED、SMT（表面貼裝技術）、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等領域，主要用于表面鍍層厚度測量與材料分析，是各類電鍍產品鍍層檢測的常用工具。

四、系列儀器的實用價值

牛津 X-Strata920 系列鍍層測厚儀通過多樣化的型號選擇、全面的檢測功能與穩定的性能表現，為不同行業企業提供適配的鍍層檢測解決方案。無論是小型企業的基礎檢測需求，還是大型生產線的批量檢測場景，該系列儀器都能通過精準的測量數據幫助企業把控產品質量，減少因鍍層厚度不合格導致的成本浪費，同時其便捷的操作與數據處理功能，也為檢測工作簡化流程、提升效率提供支持，成為鍍層檢測領域兼具實用性與性價比的選擇。

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